GL.top - 激光设备与工艺流程 - GFH GmbH

硬件模块 GL.top

为评估高精度加工质量，需要更高精度的测量技术支撑。GL.topo是一种用于表面形貌检测的光学测量系统，可可靠检测激光加工中典型的微细结构与薄膜层。该模块基于共焦色散传感器实现测量，轴向分辨率达纳米级，每秒可完成数千次测量。GL.topo完全集成于设备系统中，通过GL.control软件进行操作，可用于零部件质量检测、仿形加工数据采集及余量分析。

技术亮点

・测量原理：共焦色散传感器
・测量频率：10 kHz
・系统集成：全集成于控制器与软件
・工作距离：21 mm
・光斑直径：4 µm
·滤波功能：高通滤波/强度滤波
・量程：1 mm
·数值孔径：0.7
・扩展接口：最多5路编码器输入