硬件模块 GL.topo

为评估高精度加工质量，需要更高精度的测量技术支撑。GL.topo是一种用于表面形貌检测的光学测量系统，可可靠检测激光加工中典型的微细结构与薄膜层。该模块基于共焦色散传感器实现测量，轴向分辨率达纳米级，每秒可完成数千次测量。GL.topo完全集成于设备系统中，通过GL.control软件进行操作，可用于零部件质量检测、仿形加工数据采集及余量分析。